Основные СЗМ методики

АСМ, «Полуконтактный» метод

  • Отображение рельефа
  • Отображение дифференциального контраста
  • Отображение фазового контраста
  • Силовая спектроскопия
  • Динамическая силовая литография

СТМ

  • Отображение рельефа
  • Отображение тока (метод постоянной высоты)
  • I(Z) спектроскопия
  • I(V) спектроскопия

 

Наличие АСМ и СТМ методик позволяет проводить исследования как проводящих, так и диэлектрических образцов. В качестве примеров можно привести:

  • Биологические объекты, вплоть до ДНК
  • Накопители информации (CD, DVD и матрицы для их изготовления)
  • Микро и наноструктуры
  • Оптоэлектронные элементы и т.д.