1 Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия. Печ. «Научное приборостроение», т.9, №3, сс.33-47 (1999) А.О.Голубок
2 Определение характерных параметров СТМ изображений наноструктур методом статистического анализа двумерных случайных полей. Печ. Научное приборостроение, т.10 №1, 2000, с. 70-76. А.О.Голубок
О.М.Горбенко, С.А.Масалов, П.А.Фридман, Г.Э.Цырлин
3 Исследование алмазоподобных пленок, легированных медью, методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии Печ. Поверхность, 2000, № 7, с. 31. А.О.Голубок
О.М.Горбенко, С.А.Масалов, В.В.Розанов, Т.К.Звонарева, В.И.Иванов-Омский, С.Г.Ястребов
4 Сканирующая туннельная микроскопия пленок аморфного углерода, модифицированного медью Печ. ФТП, 2000, том 34, вып. 2, с. 95-98. А.О. Голубок
О.М.Горбенко, Т.К.Звонарева, С.А.Масалов, В.В.Розанов, С.Г.Ястребов,
В.И.Иванов-Омский
5 Наноструктурированный твердый раствор InSiAs, полученный на поверхности Si(001) методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Печ. Письма в ЖТФ, 2000, т.26, вып.17, с. 59-66 Г.Э. Цырлин,
Ю.Б. Самсоненко, В.Н. Петров,
Н.К.Поляков,
В.А. Егоров,
С.А. Масалов,
О.М. Горбенко,
А.О. Голубок,
И.П. Сошников,
В.М. Устинов.
6 Исследование морфологии поверхности пленок аморфного гидрогенизированного углерода, модифицированного медью. Печ. ФТП, 2001, т.35, вып. 2, с.237. Т.К.Звонарева, В.И.Иванов-Омский, С.Г.Ястребов, А.О.Голубок, О.М.Горбенко, В.В.Розанов.
7 Гетероструктуры с квантовыми точками в системе InAs/Si для нового поколения приборов опто- и микроэлектроники. Печ. Микроэлектроника, 2001, т.30(2), с.99-105. В.Н.Петров, Г.Э.Цырлин, А.О.Голубок, Н.И.Комяк, В.М.Устинов, Н.Н.Леденцов, Ж.И.Алферов, Д.Бимберг
8 Анализ состава когерентных нановключений твердых растворов по высокоразрешающим электронно-микроскопическим изображениям. Печ. ФТП, т. 35, вып. 3, с.361 –366 (2001). И.П.Сошников, О.М.Горбенко, А.О.Голубок, Н.Н.Леденцов.
9 Формирование кристаллической фазы HgI2 в объеме и на поверхности нанокристаллических матриц. Печ. ФТТ, т. 44, вып. 7, с.1326 (2002). Акопян И.Х.,
Лабзовская М.Э.,
Новиков Б.В.,
Голубок А.О.
Розанов В.В.,
Денисов Е.П., Павлова Т.А.,
Федоров Д.Л.
10 Особенности молекулярно-пучковой эпитаксии слоев GaN и InGaN,    полученных с использованием аммиака     ПОВЕРХНОСТЬ, Номер 3, c. 74 (2002) Б.А.Борисов, Д.М.Демидов, Д.М.Красовицкий, Ю.В.Погорельский, И.А.Соколов, В.П.Чалый, А.П.Шкурко, С.Ю.Карпов, В.В.Ратников   М.Г.Ткачман, Т.В.Шубина, А.О.Голубок, С.А.Масалов  
11 Пленки Ленгмюра-Блоджетт жесткоцепного полиимида: получение и структура. Печ. Поверхность, №10, с.103-109 (2003). С.И. Голоудина, В.М. Пасюта,
М.Ф. Панов,
В.В. Лучинин,
В.П. Склизкова, И.В.Гофман, В.В.Кудрявцев,
В.В. Розанов, А.О.Голубок,
В.В. Клечковская.
12 Датчик локального силового и туннельного взаимодействия в сканирующем зондовом микроскопе Печ. Научное приборостроение, т.15, № 1, с.62-69 (2005). А.А. Васильев, С.Ю. Керпелева,
И.Д. Сапожников, В.В. Котов,
А.О.Голубок
13     Особенности сочетания твердотельного нанозонда с энергоанализирующими системами высокого разрешения. Печ. Научное приборостроение, том 17, №1, (2007) В.Д. Белов,
А.О.Голубок.
14 Определение конфигурации апертуры ближнепольных оптических зондов по распределению светового поля в дальней зоне Печ. Известия высших учебных заведений, Приборостроение, №4, с. 64-69 (2008) В.П. Вейко,
А.О.Голубок,
В.К.Кирилловский, Д.Т.Ле.З. Зыонг. Е.Б.Яковлев,
15 Multifunctional universal SPM nanoprobe fabrication with laser technology Печ Laser Physics №5 (2009) V.P.Veiko, A.O.Golubok, V.V.Levichev, Z.Zuong, E.B.Yakovlev
16 Применение оптических энкодеров в микросканерах СЗМ с большим диапазоном сканирования Печ. Научное приборостроение, том 19, №2, с.3-12, (2009) А.О.Голубок,
О.М.Горбенко, А.В.Дворецких, В.В.Котов, И.Д.Сапожников, М.Л.Фельштын.